新着案件 1,588 件 | 受付中の案件 45,316

無料で試してみる
無料で試してみるログイン

集束イオンビーム3次元内部構造遠隔観察システム 一式
(2021年04月06日公示)

この入札案件の公示元機関について

機関
官報
入札情報入札結果入札の参加資格と入札傾向
機関所在地
〒105-0001  東京都  港区虎ノ門2-2-4
キーワード傾向
一式, システム, 業務
都道府県
新潟県
入札形式
資料提供招請
入札資格
官報公示案件代替資格 種類不明 ランク不明

※ 入札資格「種類不明」「ランク不明」の場合の注意点

資格種類不明の案件は資格を所持していなくても参加できる場合がございます。
詳細は各発注機関迄お問い合わせ下さい。

「種類不明」「ランク不明」の場合の注意点
案件公示日 説明会日 資料等交付日 資料等提出日 入札日
2021/04/06 - 2021/04/26 2021/05/10 -
その他資料

案件概要
調達に必要とされる基本的な要求要件
本装置は、集束イオンビームを搭載した高分解能走査型電子顕微鏡に元素分析・結晶方位解析とそれらのマッピングを行える機能を有するとともに遠隔操作できるシステムから構成される。
A 集束イオンビームの要求要件
 a ガリウムイオン源を有し、最高加速電圧が25kV以上であること。
 b デポジションカートリッジとして、タングステン、カーボンを有すること。
 c 加工場所をリアルタイムでモニターできること。
B 高分解能走査型電子顕微鏡本体の要求要件
 a 電界放出形電子銃を有し、最高加速電圧が25kV以上であること。
 b 二次電子検出器、反射電子検出器を装備していること。
 c 電子線の入射角度は水平面に対して90度であること。
C 元素分析・結晶方位解析及びそれらのマッピング機能の要求要件
 a エネルギー分散特性X線分光(EDX)による元素定量分析機能を有すること。
 b シリコン・ドリフト形の検出素子を有し、素子面積は170平方ミリメートル以上であること。
 c 後方散乱電子回折(EBSD)を利用した結晶方位解析及び相同定機能を有すること。
 d EBSD用検出器としてCMOSカメラタイプを採用していること。
 e EDX及びEBSDを同時使用したマッピング像を得られること。
D 遠隔操作システムの要求要件
 a PCの画面をテレビ会議システムで発信できる機能を有していること。
 b 本装置を遠隔操作できる機能・システムを有すること。
案件備考
機関名:長岡技術科学大学

入札結果

落札会社
落札金額
落札日
※掲載情報はサンプルです。

8日間無料体験版のご登録 で、詳細をご覧いただけます。

新着案件 1,588 件 | 受付中の案件 45,316

この案件に類似する案件 はこちら(受付終了)
※落札金額はベーシックプラン以上でご覧いただけます